X射线荧光光谱法检测高岭土

时间：2014-05-04 14:22:05

作者：世邦机器

王刚(2003)采用X射线荧光光谱(XRF)法取代原有的化学法，测定了高岭土中的9种主量，以及次量元素硅、铝、铁、钙、镁、钾、钠、钛和锰。通过对测定条件以及样品制备方面进行考察，制定出较佳的分析方案。该方法分析时间短(仅为10min)，精密度和准确度都较好。

张萍等(2010)采用混合熔剂(用四硼酸锂作主要熔剂，加入200g/LLiBO2水溶液为助熔剂)熔样，用XRF法测定了催化原料高岭土的化学组分硅、铝、铁、钙、镁、钛和钾。结果表明，该方法简便、快速(分析时间仅为传统湿法化学分析的1/8)，准确度较高，精密度好(重复测定高岭土主量和次量组分的相对标准偏差小于0.83%)。

宋晓(2009)采用熔融制样X射线荧光光谱法测定了高岭土中硅、铝、铁、钛、钾、钠、钙、镁和硫9种成分，分析结果较好。所得结果与化学分析结果相符，同时采用荧光光谱法更为迅速、快捷，是实际高岭土磨粉机生产中化学成分分析的一种有效方法。

谢敏等(2009)将高岭土样品用高岭土的生产设备粉碎至300目后压片制样，直接用AxiosPW4400X射线荧光光谱仪测定，采用外标法进行定量。

实验数据表明，元素含量在0〜1.0%范围内时，校准曲线的线性良好，RMS为0.02296%，品质系数K为0.0369701%，平均回收率在90%〜110%之间，相对标准偏差为0.915%。该方法简化了样品前处理过程，缩短了分析时间，检测周期减少到20min左右。

向清德等(2006)采用XRF法快速测定高岭土中各主量和次量元素。张志峰等(2007)建立了用X射线荧光光谱法分析天然高岭土中主量组分铝和硅，次量组分铁、钙、钛、镁、钾和钠的方法，都取得令人满意的结果。

综上所述，XRF法可同时测定高岭土中的主量和次量元素，而且试样制备方法简便，基体效应和元素间影响较小，因而其精密度好，准确度高，是其它分析方法所无法比拟的，因此该方法广泛用于高岭土中主量和次量元素的测定。